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螺纹塞规的校验方法

2008/9/19 13:45:32| 分类: 默认分类

塞规校验方法,供各位参考:
1、外觀檢查:以放大鏡或工具顯微鏡,檢查螺紋是否有崩牙或變形損壞等…,有則判定為不合格品,
   執行5-6步驟,如外觀檢查合格者續執行2-3步驟。
2、以分厘卡量測待校件之GP及IP(或WP)外徑,讀取測量值並記錄之。
3、螺絲牙規之GP及IP(或WP)外徑規格值,參照附表。
4、依附表之規格值與實測之測量值之差異作為判定之依據。
5、校驗不合格時,須對該量規儀器做修正,再依校驗程序校驗之。
6、若無法修正時,須限制使用或報廢。
7、容許誤差:
7.1 JIS公制螺紋:
GP外徑:+0.006~+0.018mm、IP(或WP)外徑:+0.000~-0.010mm。
7.2 JIS美英統一制螺紋:
GP外徑:+0.000~+0.018mm、IP(或WP)外徑:+0.000~-0.010mm。
規格        GP       IP或WP        備註
        外徑(mm)       容許差(μm)        外徑(mm)       容許差(μm)       
NO.4-40 UNC-2B        2.845       +18~+0        2.792       +0~-10        JIS美英統一制螺紋
M1.6×0.35        1.600       +18~+6        1.600       +0~-10        JIS公制螺紋
M1.7×0.35        1.700       +18~+6        1.640       +0~-10       
M2.0×0.40        2.000       +18~+6        1.930       +0~-10       
M2.5×0.45        2.500       +18~+6        2.500       +0~-10       
M2.6×0.45        2.600       +18~+6        2.520       +0~-10       
M3.0×0.50        3.000       +18~+6        2.990       +0~-10       
M3.5×0.60        3.500       +18~+6        3.370       +0~-10       
M4.0×0.70        4.000       +18~+6        3.970       +0~-10       
M8.0×1.00        8.000       +18~+6        7.760       +0~-10       
注意事項:量測時,須將待校件與標準件擦拭乾淨。

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